Sampling Cardinality-Based Feature Models
Güthing, Lukas 1; Weiß, Mathis; Schaefer, Ina
1; Lochau, Malte
1 Institut für Informationssicherheit und Verlässlichkeit (KASTEL), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Lochau, Malte1 Institut für Informationssicherheit und Verlässlichkeit (KASTEL), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Informationssicherheit und Verlässlichkeit (KASTEL) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 07.02.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-84-00-70877-0 KITopen-ID: 1000168663 |
| Erschienen in | VaMoS '24: Proceedings of the 18th International Working Conference on Variability Modelling of Software-Intensive Systems |
| Veranstaltung | 18th International Working Conference on Variability Modelling of Software-Intensive Systems (VaMoS 2024), Bern, Schweiz, 07.02.2024 – 09.02.2024 |
| Verlag | Association for Computing Machinery (ACM) |
| Seiten | 46 – 55 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |