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Sampling Cardinality-Based Feature Models

Güthing, Lukas 1; Weiß, Mathis; Schaefer, Ina 1; Lochau, Malte
1 Institut für Informationssicherheit und Verlässlichkeit (KASTEL), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Informationssicherheit und Verlässlichkeit (KASTEL)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 07.02.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 979-84-00-70877-0
KITopen-ID: 1000168663
Erschienen in VaMoS '24: Proceedings of the 18th International Working Conference on Variability Modelling of Software-Intensive Systems
Veranstaltung 18th International Working Conference on Variability Modelling of Software-Intensive Systems (VaMoS 2024), Bern, Schweiz, 07.02.2024 – 09.02.2024
Verlag Association for Computing Machinery (ACM)
Seiten 46 – 55
Nachgewiesen in Scopus
Dimensions
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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