Fault Detection in 3D-Printing with Deep Learning
Rettenberger, Luca
1; Beyer, Nils 1; Sieber, Ingo
1; Reischl, Markus
1
1 Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Beyer, Nils 1; Sieber, Ingo
1; Reischl, Markus
11 Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 06.01.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-83-503-2413-6 KITopen-ID: 1000169013 |
| HGF-Programm | 43.31.02 (POF IV, LK 01) Devices and Applications |
| Erschienen in | 2024 IEEE International Conference on Consumer Electronics (ICCE) |
| Veranstaltung | IEEE International Conference on Consumer Electronics (ICCE 2024), Las Vegas, NV, USA, 06.01.2024 – 08.01.2024 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 4 S. |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |