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Analysis of a SiGe BiCMOS Detector for a Broadband mmW-integrated EPR Spectrometer

Eckel, Selina 1; Ulusoy, Ahmet Çağri 1
1 Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 21.02.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 979-8-3503-4331-1
ISSN: 2475-2983
KITopen-ID: 1000169383
Erschienen in 2024 IEEE 24th Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems (SiRF), San Antonio, TX, 21st-24th January 2024
Veranstaltung 24th Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems (SiRF 2024), San Antonio, TX, USA, 21.01.2024 – 24.01.2024
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 71 – 74
Projektinformation SFB 1527; HyPERiON (DFG, DFG KOORD, SFB 1527_1)
Nachgewiesen in Dimensions
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