Dynamic evolution of internal stress, grain growth, and crystallographic texture in arc-evaporated AlTiN thin films using in-situ synchrotron x-ray diffraction
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 06.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1359-6454 KITopen-ID: 1000169937 |
| Erschienen in | Acta Materialia |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 272 |
| Seiten | Article no: 119899 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions Scopus |