The ZuSE-KI-Mobil AI Accelerator SoC: Overview and a Functional Safety Perspective
Kempf, Fabian 1; Hoefer, Julian
2; Harbaum, Tanja
2; Becker, Juergen 1; Fasfous, Nael; Frickenstein, Alexander; Voegel, Hans-Joerg; Friedrich, Simon; Wittig, Robert; Matúš, Emil; Fettweis, Gerhard; Lueders, Matthias; Blume, Holger; Benndorf, Jens; Grantz, Darius; Zeller, Martin; Engelke, Dietmar; Eickel, Karl-Heinz
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2; Harbaum, Tanja
2; Becker, Juergen 1; Fasfous, Nael; Frickenstein, Alexander; Voegel, Hans-Joerg; Friedrich, Simon; Wittig, Robert; Matúš, Emil; Fettweis, Gerhard; Lueders, Matthias; Blume, Holger; Benndorf, Jens; Grantz, Darius; Zeller, Martin; Engelke, Dietmar; Eickel, Karl-Heinz1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 04.2023 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-8-3503-9624-9 KITopen-ID: 1000170386 |
| Erschienen in | 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), Antwerp, Belgium, 17-19 April 2023 |
| Veranstaltung | Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE 2023), Antwerpen, Belgien, 17.04.2023 – 19.04.2023 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |