KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Data-Driven Fault Tree Modeling for Reliability Assessment of Cyber-Physical Systems

Lazarova-Molnar, Sanja ORCID iD icon; Niloofar, Parisa; Barta, Gabor Kevin


Download
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/WSC48552.2020.9383882
Scopus
Zitationen: 13
Dimensions
Zitationen: 16
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 14.12.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72819-499-8
KITopen-ID: 1000170919
Erschienen in 2020 Winter Simulation Conference (WSC). Hrsg.: IEEE. Winter Simulation Conference (WSC 2020) Orlando, FL, USA, 14.12.2020–18.12.2020
Veranstaltung Winter Simulation Conference (WSC 2020), Orlando, FL, USA, 14.12.2020 – 18.12.2020
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 2719–2730
Nachgewiesen in Scopus
Dimensions
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page