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Data-Driven Fault Tree Modeling for Reliability Assessment of Cyber-Physical Systems

Lazarova-Molnar, Sanja ORCID iD icon; Niloofar, Parisa; Barta, Gabor Kevin


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/WSC48552.2020.9383882
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Zitationen: 14
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Zitationen: 16
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 14.12.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72819-499-8
KITopen-ID: 1000170919
Erschienen in 2020 Winter Simulation Conference (WSC). Hrsg.: IEEE. Winter Simulation Conference (WSC 2020) Orlando, FL, USA, 14.12.2020–18.12.2020
Veranstaltung Winter Simulation Conference (WSC 2020), Orlando, FL, USA, 14.12.2020 – 18.12.2020
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 2719–2730
Nachgewiesen in Dimensions
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