Soft and Hard Error Correction Techniques in STT-MRAM
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 10.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2168-2356, 2168-2364 KITopen-ID: 1000171006 |
| Erschienen in | IEEE Design and Test |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 41 |
| Heft | 5 |
| Seiten | 65–82 |
| Vorab online veröffentlicht am | 01.05.2024 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Scopus Dimensions |