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Soft and Hard Error Correction Techniques in STT-MRAM

Hemaram, Surendra 1; Tahoori, Mehdi B. 1; Catthoor, Francky; Rao, Siddharth; Couet, Sebastien; Pica, Valerio; Kar, Gouri Sankar
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 10.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2168-2356, 2168-2364
KITopen-ID: 1000171006
Erschienen in IEEE Design and Test
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 41
Heft 5
Seiten 65–82
Vorab online veröffentlicht am 01.05.2024
Nachgewiesen in OpenAlex
Scopus
Dimensions

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/MDAT.2024.3395972
Scopus
Zitationen: 2
Seitenaufrufe: 35
seit 05.06.2024
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