Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Institut für Angewandte Materialien – Zuverlässigkeit und Mikrostruktur (IAM-ZM) |
Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
Publikationsdatum | 01.08.2022 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISSN: 1435-8115, 1431-9276 KITopen-ID: 1000171122 |
Erschienen in | Microscopy and Microanalysis |
Verlag | Cambridge University Press (CUP) |
Band | 28 |
Heft | S1 |
Seiten | 2346–2348 |
Nachgewiesen in | Dimensions OpenAlex |