Reliability modeling of circuits with multi-state aging gates
Lazarova-Molnar, Sanja
1; Beiu, Valeriu
1 Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Beiu, Valeriu1 Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2008 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-62276360-3 KITopen-ID: 1000171180 |
| Erschienen in | Grand Challenges in Modelling and Simulation Symposium (GCMS 2008) : Part of the 2008 Summer Simulation Multiconference (SummerSim'08) |
| Veranstaltung | Grand Challenges in Modelling and Simulation Symposium (GCMS 2008), Edinburgh, Vereinigtes Königreich, 16.06.2008 – 19.06.2008 |
| Verlag | Curran Associates, Inc. |
| Seiten | 43-47 |
| Nachgewiesen in | Scopus |