Accurate Nano-Circuits Reliability Evaluations Based on Combining Numerical Simulations with Monte Carlo
Ibrahim, W.; Beiu, V.; Lazarova-Molnar, S.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2007 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4244-1824-4 KITopen-ID: 1000171183 |
| Erschienen in | 2007 2nd International Design and Test Workshop, Cairo, Egypt, 16-18 December 2007 |
| Veranstaltung | 2nd International Design and Test Workshop (IDT 2007), Kairo, Ägypten, 16.12.2007 – 18.12.2007 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 139-144 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |