Reliability the fourth optimization pillar of nanoelectronics
Lazarova-Molnar, S.
; Beiu, V.; Ibrahim, W.
; Beiu, V.; Ibrahim, W.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2007 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4244-1235-8 KITopen-ID: 1000171185 |
| Erschienen in | ICSPC 2007 Proceedings - 2007 IEEE International Conference on Signal Processing and Communications. Hrsg.: IEEE, IEEE International Conference on Signal Processing and Communications (2007), Dubai, Vereinigte Arabische Emirate, 24.11.2007–27.11.2007 |
| Veranstaltung | IEEE International Conference on Signal Processing and Communications (ICSPC 2007), Dubai, Vereinigte Arabische Emirate, 24.11.2007 – 27.11.2007 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 73-76 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |