A strategy for reliability assessment of future nano-circuits
Lazarova-Molnar, S.
; Beiu, V.; Ibrahim, W.
; Beiu, V.; Ibrahim, W.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 17.05.2007 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-960-8457-61-4 KITopen-ID: 1000171191 |
| Erschienen in | Proceedings of the 6th Conference on WSEAS International Conference on Applied Computer Science (ACACOS'07). Ed.: A. Xu |
| Veranstaltung | 6th WSEAS International Conference on Applied Computer Science (2007), Hangzhou, China, 15.04.2007 – 17.04.2007 |
| Verlag | World Scientific and Engineering Academy and Society (WSEAS) |
| Bemerkung zur Veröffentlichung | Query date: 2024-05-17 09:23:39 |