Proxels for Reliability Assessment of Future Nano-Architectures
Lazarova-Molnar, S.
; Beiu, V.; Ibrahim, W.
; Beiu, V.; Ibrahim, W.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2007 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4244-1824-4 KITopen-ID: 1000171193 |
| Erschienen in | 2007 2nd International Design and Test Workshop, 2nd International Design and Test Workshop (2007), Kairo, Ägypten, 16.12.2007–18.12.2007 |
| Veranstaltung | 2nd International Design and Test Workshop (IDT 2007), Kairo, Ägypten, 16.12.2007 – 18.12.2007 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 88–89 |
| Bemerkung zur Veröffentlichung | Query date: 2024-05-17 09:23:39 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |