Uncertainty-aware particle segmentation for electron microscopy at varied length scales
Rettenberger, Luca
1; Szymanski, Nathan J.; Zeng, Yan; Schuetzke, Jan
1; Wang, Shilong; Ceder, Gerbrand; Reischl, Markus
1
1 Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Szymanski, Nathan J.; Zeng, Yan; Schuetzke, Jan
1; Wang, Shilong; Ceder, Gerbrand; Reischl, Markus
11 Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2057-3960 KITopen-ID: 1000171599 |
| HGF-Programm | 43.31.02 (POF IV, LK 01) Devices and Applications |
| Erschienen in | npj Computational Materials |
| Verlag | Nature Research |
| Band | 10 |
| Heft | 1 |
| Seiten | Artkl.Nr.: 124 |
| Vorab online veröffentlicht am | 12.06.2024 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |