Uncertainty-aware particle segmentation for electron microscopy at varied length scales

¹; Szymanski, Nathan J.; Zeng, Yan; Schuetzke, Jan

¹; Wang, Shilong; Ceder, Gerbrand; Reischl, Markus

¹
¹ Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2024
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 2057-3960 KITopen-ID: 1000171599
HGF-Programm	43.31.02 (POF IV, LK 01) Devices and Applications
Erschienen in	npj Computational Materials
Verlag	Nature Research
Band	10
Heft	1
Seiten	Artkl.Nr.: 124
Bemerkung zur Veröffentlichung	Gefördert durch den KIT-Publikationsfonds
Vorab online veröffentlicht am	12.06.2024
Nachgewiesen in	Dimensions Web of Science OpenAlex Scopus
Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung

Verlagsausgabe

DOI: 10.5445/IR/1000171599

Veröffentlicht am 13.06.2024

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1038/s41524-024-01302-w

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