Modified Bisection Thru-Only Deembedding Algorithm for Long Test Fixtures
Quint, Alexander 1; Valenziano, Luca
1; Hebeler, Joachim
1; Zwick, Thomas 1; Bhutani, Akanksha
1
1 Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Hebeler, Joachim
1; Zwick, Thomas 1; Bhutani, Akanksha
11 Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 04.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-83-503-2989-6 ISSN: 1071-9032 KITopen-ID: 1000171654 |
| Erschienen in | 2024 IEEE 36th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) |
| Veranstaltung | 36th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS 2024), Edinburgh, Vereinigtes Königreich, 15.04.2024 – 18.04.2024 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–6 |
| Serie | Proceedings of the International Conference on Microelectronic Test Structures |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |