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Modified Bisection Thru-Only Deembedding Algorithm for Long Test Fixtures

Quint, Alexander 1; Valenziano, Luca ORCID iD icon 1; Hebeler, Joachim 1; Zwick, Thomas 1; Bhutani, Akanksha ORCID iD icon 1
1 Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ICMTS59902.2024.10520703
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 04.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 979-83-503-2989-6
ISSN: 1071-9032
KITopen-ID: 1000171654
Erschienen in 2024 IEEE 36th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)
Veranstaltung 36th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS 2024), Edinburgh, Vereinigtes Königreich, 15.04.2024 – 18.04.2024
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1–6
Serie Proceedings of the International Conference on Microelectronic Test Structures
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