Addressing the Combined Effect of Transistor and Interconnect Aging in SRAM towards Silicon Lifecycle Management
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-8-3503-6379-1 ISSN: 1093-0167 KITopen-ID: 1000171869 |
| Erschienen in | 2024 IEEE 42nd VLSI Test Symposium (VTS), Tempe, 22nd-24th April 2024 |
| Veranstaltung | 42nd IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2024), Tempe, AZ, USA, 22.04.2024 – 24.04.2024 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–5 |
| Vorab online veröffentlicht am | 29.05.2024 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |