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Reliability analysis and mitigation for analog computation-in-memory: from technology to application

Mayahinia, Mahta 1; Hezayyin, Haneen G. 1; Tahoori, Mehdi 2
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2024
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 979-8-3503-6379-1
ISSN: 1093-0167
KITopen-ID: 1000171873
Erschienen in 2024 IEEE 42nd VLSI Test Symposium (VTS), Tempe, 22nd-24th April 2024
Veranstaltung 42nd IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2024), Tempe, AZ, USA, 22.04.2024 – 24.04.2024
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1–7
Vorab online veröffentlicht am 29.05.2024
Nachgewiesen in Dimensions
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Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung Ziel 7 – Bezahlbare und saubere Energie
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