Testing for Electromigration in Sub-5nm FinFET Memories
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 12.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2168-2356, 2168-2364 KITopen-ID: 1000171975 |
| Erschienen in | IEEE Design and Test |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 41 |
| Heft | 6 |
| Seiten | 54–61 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |