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Testing for Electromigration in Sub-5nm FinFET Memories

Mayahinia, Mahta 1; Tahoori, Mehdi 1; Tshagharyan, Grigor; Amirkhanyan, Karen; Ghukasyan, Artur; Harutyunyan, Gurgen; Zorian, Yervant
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 12.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2168-2356, 2168-2364
KITopen-ID: 1000171975
Erschienen in IEEE Design and Test
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 41
Heft 6
Seiten 54–61
Nachgewiesen in Scopus
OpenAlex
Dimensions
Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung Ziel 10 – Weniger Ungleichheiten

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/MDAT.2024.3411527
Scopus
Zitationen: 1
Dimensions
Zitationen: 1
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Seitenaufrufe: 26
seit 09.07.2024
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