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Hartmann-based wavefront sensing and multi-contrast imaging with synchrotron and laboratory sources

Mikhaylov, Andrey ORCID iD icon 1
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Abstract:

Im Laufe der Jahre haben Methoden, die für Phaseninformationen empfindlich sind, in Wissenschaft und Technik großes Interesse geweckt und sich in Bereichen wie der Materialwissenschaft und der Medizin stetig und schnell weiterentwickelt. Die Entwicklung solcher Techniken im Bereich der harten Röntgenstrahlung verlief ähnlich wie bei der visuellen Lichtoptik, einschließlich der Entwicklung und Anpassung analoger optischer Elemente und Datenverarbeitungsstrategien, um genauere Charakterisierungen zu erhalten. Auch wenn einige Methoden, die auf Welleninterferenz beruhen, eine hohe Winkelempfindlichkeit bieten können, ist die Umsetzung solcher Techniken sehr komplex. ... mehr

Abstract (englisch):

Over the years, methods sensitive to phase information have attracted great interest in the scientific and engineering communities, evolving steadily and rapidly in areas such as materials science and medicine. The development of such techniques in the field of hard X-rays followed a similar journey to that of visual light optics, including the development and adaptation of analogous optical elements and data processing strategies aimed at obtaining more accurate characterizations. Even though some methods that rely on wave interference could provide high angular sensitivity, implementing such techniques could be complex. ... mehr


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000172649
Veröffentlicht am 23.07.2024
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 23.07.2024
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000172649
HGF-Programm 43.32.02 (POF IV, LK 01) Designed Optical Materials
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang x, 107 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Prüfungsdatum 18.07.2023
Schlagwörter X-rays, Phase-contrast X-ray imaging, microstructural technologies, lithography, tomography
Referent/Betreuer Korvink, Jan Gerrit
Lemmer, Ulrich
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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