Solution to preserve correspondence of measurement and light source using multiple simultaneously with MAPS
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Lichttechnisches Institut (LTI) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 19.07.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-8-3503-9409-2 KITopen-ID: 1000172686 |
| Erschienen in | 2024 IEEE 33rd International Symposium on Industrial Electronics (ISIE), Ulsan, Korea, Republic of, 18-21 June 2024 |
| Veranstaltung | 33rd IEEE International Symposium on Industrial Electronics (ISIE 2024), Ulsan, Südkorea, 18.06.2024 – 21.06.2024 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Nachgewiesen in | Dimensions |