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Modular Platform for Automated Characterisation of Printed Structures, Devices and Circuits

Koker, Liane ORCID iD icon 1; Reichert, Klaus-Martin 1; Gengenbach, Ulrich 1; Reischl, Markus ORCID iD icon 1; Ungerer, Martin ORCID iD icon 1
1 Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2024
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000172695
HGF-Programm 43.31.02 (POF IV, LK 01) Devices and Applications
Veranstaltung DTIP 2024: Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS (2024), Dresden, Deutschland, 02.06.2024 – 05.06.2024
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