KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Reliability Modeling and Mitigation in Advanced Memory Technologies and Paradigms

Mayahinia, Mahta 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000172703
Veröffentlicht am 25.07.2024
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 25.07.2024
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000172703
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang xiv, 121 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Institut für Technische Informatik (ITEC)
Prüfungsdatum 12.07.2024
Nachgewiesen in OpenAlex
Referent/Betreuer Tahoori, Mehdi B.
Anghel, Lorena
KIT – Die Universität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page