KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Reliability Modeling and Mitigation in Advanced Memory Technologies and Paradigms

Mayahinia, Mahta 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000172703
Veröffentlicht am 25.07.2024
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 25.07.2024
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000172703
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang xiv, 121 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Institut für Technische Informatik (ITEC)
Prüfungsdatum 12.07.2024
Referent/Betreuer Tahoori, Mehdi B.
Anghel, Lorena
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page