MBIST-based weak bit screening method for embedded MRAM
Yun, Jongsin; Bakhtavari Mamaghani, Sina 1; Tahoori, Mehdi 1; Münch, Christopher
1; Keim, Martin
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Keim, Martin1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 05.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-83-503-4932-0 ISSN: 1530-1877 KITopen-ID: 1000172729 |
| Erschienen in | 2024 IEEE European Test Symposium (ETS) |
| Veranstaltung | 29th IEEE European Test Symposium (ETS 2024), Den Haag, Niederlande, 20.05.2024 – 24.05.2024 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–4 |
| Serie | Proceedings - European Test Workshop |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |