Degradation Monitoring Through Software-controlled On-chip Sensors for RISC-V
Ghasemi, S. Maryam 1; Krautter, Jonas
1; Gheshlaghi, Tara 1; Meschkov, Sergej 1; Gnad, Dennis R. E. 1; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Gheshlaghi, Tara 1; Meschkov, Sergej 1; Gnad, Dennis R. E. 1; Tahoori, Mehdi B. 11 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 05.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-83-503-4932-0 ISSN: 1530-1877 KITopen-ID: 1000172738 |
| Erschienen in | 2024 IEEE European Test Symposium (ETS) |
| Veranstaltung | 29th IEEE European Test Symposium (ETS 2024), Den Haag, Niederlande, 20.05.2024 – 24.05.2024 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–6 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |