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Quantization-Robust On-Chip Jitter Measurement Technique for Multiple Local Oscillator Systems

Schramm, Lukas 1; Baumgartner, Peter; Aghassi-Hagmann, Jasmin ORCID iD icon 1
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ISCAS58744.2024.10558206
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 07.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 979-8-3503-3100-4
ISSN: 0271-4302
KITopen-ID: 1000172837
Erschienen in 2024 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), Singapur, 19th-22nd May 2024
Veranstaltung IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2024), Singapur, Singapur, 19.05.2024 – 22.05.2024
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1–5
Vorab online veröffentlicht am 02.07.2024
Nachgewiesen in Dimensions
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