MulTi-Wise Sampling: Trading Uniform T-Wise Feature Interaction Coverage for Smaller Samples
Pett, Tobias
1; Krieter, Sebastian; Thüm, Thomas; Schaefer, Ina
1
1 Institut für Informationssicherheit und Verlässlichkeit (KASTEL), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Krieter, Sebastian; Thüm, Thomas; Schaefer, Ina
11 Institut für Informationssicherheit und Verlässlichkeit (KASTEL), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Informationssicherheit und Verlässlichkeit (KASTEL) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 02.09.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-8-4007-0593-9 KITopen-ID: 1000173483 |
| Erschienen in | SPLC '24: Proceedings of the 28th ACM International Systems and Software Product Line Conference - Volume B. Ed.: M. Cordy |
| Veranstaltung | 28th ACM International Systems and Software Product Line Conference (SPLC 2024), Dommeldingen, Luxemburg, 02.09.2024 – 06.09.2024 |
| Verlag | Association for Computing Machinery (ACM) |
| Seiten | 47–53 |
| Projektinformation | SofDCar (BMWK, 19S21002K) SFB 1608/1 (DFG, DFG KOORD, SFB 1608) |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |