Direct detection system for full-field nanoscale X-ray diffraction-contrast imaging
Kisiel, Elliot ; Poudyal, Ishwor; Kenesei, Peter; Engbretson, Mark; Last, Arndt
1; Basak, Rourav; Zaluzhnyy, Ivan; Goteti, Uday; Dynes, Robert; Miceli, Antonino; Frano, Alex; Islam, Zahir
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Basak, Rourav; Zaluzhnyy, Ivan; Goteti, Uday; Dynes, Robert; Miceli, Antonino; Frano, Alex; Islam, Zahir1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsdatum | 29.07.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1094-4087 KITopen-ID: 1000173830 |
| HGF-Programm | 43.35.01 (POF IV, LK 01) Platform for Correlative, In Situ & Operando Charakterizat. |
| Erschienen in | Optics Express |
| Verlag | Optica Publishing Group (OSA) |
| Band | 32 |
| Heft | 16 |
| Seiten | Art.-Nr.: 27682 |
| Vorab online veröffentlicht am | 17.07.2024 |
| Nachgewiesen in | Web of Science OpenAlex Dimensions Scopus |