Direct detection system for full-field nanoscale X-ray diffraction-contrast imaging

Kisiel, Elliot; Poudyal, Ishwor; Kenesei, Peter; Engbretson, Mark; Last, Arndt; Basak, Rourav; Zaluzhnyy, Ivan; Goteti, Uday; Dynes, Robert; Miceli, Antonino; Frano, Alex; Islam, Zahir

doi:10.1364/OE.518974

Direct detection system for full-field nanoscale X-ray diffraction-contrast imaging

Kisiel, Elliot ; Poudyal, Ishwor; Kenesei, Peter; Engbretson, Mark; Last, Arndt ¹; Basak, Rourav; Zaluzhnyy, Ivan; Goteti, Uday; Dynes, Robert; Miceli, Antonino; Frano, Alex; Islam, Zahir
¹ Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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DOI: 10.1364/OE.518974

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum	29.07.2024
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 1094-4087 KITopen-ID: 1000173830
Erschienen in	Optics Express
Verlag	Optica Publishing Group (OSA)
Band	32
Heft	16
Seiten	Art.-Nr.: 27682
Vorab online veröffentlicht am	17.07.2024
Nachgewiesen in	Web of Science Dimensions Scopus

Repository KITopen

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