KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

A novel thermal-based fabric defect detection technique

Yildiz, Kazim ; Buldu, Ali; Demetgül, Mustafa ORCID iD icon 1; Yildiz, Zehra
1 Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1080/00405000.2014.916063
Scopus
Zitationen: 23
Web of Science
Zitationen: 20
Dimensions
Zitationen: 23
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum 04.03.2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0040-5000, 1754-2340
KITopen-ID: 1000173908
Erschienen in The Journal of The Textile Institute
Verlag Textile Institute
Band 106
Heft 3
Seiten 275–283
Vorab online veröffentlicht am 21.05.2014
Nachgewiesen in Web of Science
Dimensions
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page