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Angular crack monitoring of Aluminum plate by Lamb wave analysis

Demetgül, M. ORCID iD icon; Şenyürek, V. Y.; Tansel, I. N.; Yazıcıoğlu, O.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 05.2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000173921
Erschienen in Proceedings of the 6th International Advanced Technologies Symposium
Veranstaltung 6th International Advanced Technologies Symposium (2011), Elazığ, Türkei, 16.05.2011 – 18.05.2011
Seiten 152-155
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