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Towards Learning Object Detectors with Limited Data for Industrial Applications

Guirguis, Karim 1
1 Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Abstract:

Künstliche Intelligenz (KI) hat die Produktionstechnik in der Industrie bereits revolutioniert und wird diese zukünftig weitgehend verändern. Diese Transformation hat bzw. wird abhängig von der jeweiligen Branche zu Kostensenkungen von bis zu ca. $20\%$ und Umsatzsteigerungen von bis zu ca. $10\%$ führen. Mithilfe von KI ist es IT-Systemen nun möglich, große Datenmengen aus Produktionslinien effizient zu verarbeiten, Schlussfolgerungen daraus zu ziehen und Optimierungen durchzuführen. Diese Fähigkeiten ermöglichen es diesen Systemen, Muster in den Daten zu erkennen, Prozessverhalten zu analysieren und vorherzusagen sowie Anomalien in Echtzeit während des Produktionsprozesses zu erkennen.
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Abstract (englisch):

Artificial Intelligence (AI) has been disrupting the manufacturing sector, completely reshaping how industries operate. These changes have resulted in cost reductions of approximately up to $20\%$ and revenue increases of up to $10\%$ in different industries. AI can empower computer vision systems to efficiently process and interpret vast volumes of data from production lines. This capability allows these systems to spot patterns, analyze and predict process behavior, and detect anomalies in real-time during production processes, among other functions. A pivotal component of these modern perception systems is an object detection model capable of accurately localizing and classifying known objects in diverse environmental settings. ... mehr


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000173990
Veröffentlicht am 06.09.2024
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 06.09.2024
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000173990
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang xvi, 234 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Prüfungsdatum 28.06.2024
Schlagwörter Deep Learning, Computer Vision, AI, Object Detection, Few-Shot Learning
Referent/Betreuer Beyerer, Jürgen
Yang, Bin
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