Do Radiation and Aging Impact DVFS? TCAD-based Analysis on 22 nm FDSOI Latches
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 08.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-8-3503-7056-0 ISSN: 1942-9398 KITopen-ID: 1000174302 |
| Erschienen in | 2024 IEEE 30th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), Rennes, 3rd-5th July 2024 |
| Veranstaltung | 30th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2024), Rennes, Frankreich, 03.07.2024 – 05.07.2024 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–6 |
| Vorab online veröffentlicht am | 05.08.2024 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |