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Do Radiation and Aging Impact DVFS? TCAD-based Analysis on 22 nm FDSOI Latches

Zhang, Zhe 1; Weis, Christian; Wehn, Norbert; Tahoori, Mehdi 2; Nassif, Sani
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IOLTS60994.2024.10616051
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 08.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 979-8-3503-7056-0
ISSN: 1942-9398
KITopen-ID: 1000174302
Erschienen in 2024 IEEE 30th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), Rennes, 3rd-5th July 2024
Veranstaltung 30th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2024), Rennes, Frankreich, 03.07.2024 – 05.07.2024
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1–6
Vorab online veröffentlicht am 05.08.2024
Nachgewiesen in Dimensions
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Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung Ziel 7 – Bezahlbare und saubere Energie
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