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On the characterization of MPA CVD diamond for fracture toughness measurements

Aiello, Gaetano ORCID iD icon 1; Bonnekoh, Carsten 1; Gabrusenoks, Jevgenijs; Gorr, Bronislava 1; Meier, Andreas 1; Popov, Anatoli I.; Scherer, Theo Andreas 1; Schreck, Sabine ORCID iD icon 1; Seemann, Klaus M. ORCID iD icon 1; Strauss, Dirk 1; Wild, Christoph; Woerner, Eckhard
1 Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Postprint §
DOI: 10.5445/IR/1000174449
Veröffentlicht am 23.09.2024
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2024
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000174449
Erschienen in 49th IEEE International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves (IRMMW-THz 2024)
Veranstaltung 49th International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves (IRMMW-THz 2024), Perth, Australien, 01.09.2024 – 06.09.2024
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
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