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Optimal Test Structures for the Characterization of Integrated Transformers at mm-wave frequencies using the Open/Thru De-embedding Technique

Lauritano, Mario; Baumgartner, Peter


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ICMTS50340.2022.9898235
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Zitationen: 1
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2022
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-6654-8567-8
KITopen-ID: 1000174492
Erschienen in 2022 IEEE 34th ICMTS proceedings
Veranstaltung 34th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS 2022), Cleveland, OH, USA, 21.03.2022 – 15.04.2022
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 4 S.
Vorab online veröffentlicht am 26.09.2022
Nachgewiesen in Dimensions
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