Automated Characterisation of Printed Electronics Under Adjustable Ambient Conditions
Ungerer, Martin
1; Chen, Zehua
1; Mach, Tim Pang
2; Reichert, Klaus-Martin 1; Gengenbach, Ulrich 1; Lindmüller, Moritz 1; Binder, Joachim R. 2; Reischl, Markus
1; Koker, Liane
1
1 Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Chen, Zehua
1; Mach, Tim Pang
2; Reichert, Klaus-Martin 1; Gengenbach, Ulrich 1; Lindmüller, Moritz 1; Binder, Joachim R. 2; Reischl, Markus
1; Koker, Liane
11 Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS) Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 09.10.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-8-3503-5208-5 KITopen-ID: 1000176056 |
| HGF-Programm | 43.31.02 (POF IV, LK 01) Devices and Applications |
| Erschienen in | 2024 International Semiconductor Conference (CAS), Sinaia, Romania, 09-11 October 2024 |
| Veranstaltung | International Semiconductor Conference (CAS 2024), Sinaia, Rumänien, 09.10.2024 – 11.10.2024 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 69–72 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |