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Meta-Scanner: Detecting Fault Attacks via Scanning FPGA Designs Metadata

Nassar, Hassan ORCID iD icon 1; Krautter, Jonas ORCID iD icon 1; Bauer, Lars; Gnad, Dennis 1; Tahoori, Mehdi 1; Henkel, Jörg
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCAD.2024.3443769
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 11.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0278-0070, 1937-4151
KITopen-ID: 1000176320
Erschienen in IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 43
Heft 11
Seiten 3443–3454
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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