KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Meta-Scanner: Detecting Fault Attacks via Scanning FPGA Designs Metadata

Nassar, Hassan ORCID iD icon 1; Krautter, Jonas ORCID iD icon 1; Bauer, Lars; Gnad, Dennis 1; Tahoori, Mehdi 1; Henkel, Jörg 2
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCAD.2024.3443769
Scopus
Zitationen: 3
Web of Science
Zitationen: 4
Dimensions
Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 11.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0278-0070, 1937-4151
KITopen-ID: 1000176320
Erschienen in IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 43
Heft 11
Seiten 3443–3454
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
OpenAlex
Dimensions
Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung Ziel 13 – Maßnahmen zum Klimaschutz
KIT – Die Universität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page