Charakterisierung eines supraleitenden Quantensensors zur Messung einfallender Elektronen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsdatum | 05.06.2024 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000176574 |
| Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
| Art der Arbeit | Abschlussarbeit - Bachelor |
| Prüfungsdaten | 16.11.2024 |
| Referent/Betreuer | Kempf, Sebastian |