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Signal enhancement in X-ray Talbot interferometry with a pair of concave and convex parabolic phase gratings

Momose, Atsushi 1; Zangi, Pouria 1; Meyer, Pascal 1; Börner, Martin; Kobayashi, Shinji; Fang, Yichen; Ueda, Ryosuke; Seki, Yoshichika
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Postprint §
DOI: 10.5445/IR/1000176737
Veröffentlicht am 28.11.2024
Originalveröffentlichung
DOI: 10.35848/1882-0786/ad9665
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Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum 01.12.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1882-0778, 1882-0786
KITopen-ID: 1000176737
Erschienen in Applied Physics Express
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 17
Heft 12
Seiten 122003
Nachgewiesen in Dimensions
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