Amorphous Doped Indium Tin Oxide Thin‐Films by Atomic Layer Deposition.Insights into Their Structural, Electronic and Device Reliability
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS) Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2196-7350 KITopen-ID: 1000176776 |
| Erschienen in | Advanced Materials Interfaces |
| Verlag | John Wiley and Sons |
| Seiten | Article no: 2400758 |
| Vorab online veröffentlicht am | 14.11.2024 |
| Schlagwörter | XPS 2024-031-031967 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |