High precision measurement of the 99 Tc β spectrum
Paulsen, M. ; Ranitzsch, P. C.-O.; Loidl, M.; Rodrigues, M.; Kossert, K.; Mougeot, X. ; Singh, A.; Leblond, S.; Beyer, J.; Bockhorn, L.; Enss, C.; Wegner, M.
1,2; Kempf, S. 1,2; Nähle, O.
1 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1,2; Kempf, S. 1,2; Nähle, O.1 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS) Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 11.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2469-9985, 2469-9993 KITopen-ID: 1000176913 |
| Erschienen in | Physical Review C |
| Verlag | American Physical Society (APS) |
| Band | 110 |
| Heft | 5 |
| Seiten | Art.-Nr.: 055503 |
| Vorab online veröffentlicht am | 20.11.2024 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |