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In-hive flatbed scanners for non-destructive, long-term monitoring of honey bee brood, pathogens and pests

Borlinghaus, Parzival ORCID iD icon 1; Gülzow, Jörg Marvin; Odemer, Richard
1 Institut für Operations Research (IOR), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000177149
Veröffentlicht am 16.12.2024
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Operations Research (IOR)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 12.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2772-3755
KITopen-ID: 1000177149
Erschienen in Smart Agricultural Technology
Verlag Elsevier B.V.
Band 9
Seiten 100655
Nachgewiesen in Dimensions
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