Supervised Domain Adaptation for Surface Defect Detection Leveraging Partial Data Availability
Heider, Imanuel 1; Baumgärtner, Jan
1; Bartz, Patrick 1; Puchta, Alexander 1; Fleischer, Jürgen 1
1 Institut für Produktionstechnik (WBK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Bartz, Patrick 1; Puchta, Alexander 1; Fleischer, Jürgen 11 Institut für Produktionstechnik (WBK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktionstechnik (WBK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 28.08.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-8-3503-5852-0 ISSN: 2161-8070 KITopen-ID: 1000177286 |
| Erschienen in | 2024 IEEE 20th International Conference on Automation Science and Engineering (CASE), Bari, 28th August 2024 - 1st September 2024 |
| Veranstaltung | 20th International Conference on Automation Science and Engineering (CASE 2024), Bari, Italien, 28.08.2024 – 01.09.2024 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 4134–4139 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |