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The Positive Impact of Metric Learning on Open Set Nearest Neighbor Classification

Grote, Alexander; Badwitz, Wolfgang ORCID iD icon 1; Knierim, Michael Thomas 1; Weinhardt, Christof ORCID iD icon 1
1 Institut für Wirtschaftsinformatik und Marketing (IISM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Wirtschaftsinformatik und Marketing (IISM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2024
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-9981331-7-1
ISSN: 1530-1605
KITopen-ID: 1000177418
Erschienen in Proceedings of the 57th Annual Hawaii International Conference on System Sciences : Hilton Hawaiian Village Waikiki Beach Resort, January 3-6, 2024.Ed.: T. Bui
Veranstaltung 57th Hawaii International Conference on System Sciences (HICSS 2024), Honolulu, HI, USA, 03.01.2024 – 06.01.2024
Verlag AIS eLibrary (AISeL)
Seiten 1080–1089
Nachgewiesen in Scopus

Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000177418
Veröffentlicht am 15.01.2025
Seitenaufrufe: 39
seit 16.01.2025
Downloads: 33
seit 25.01.2025
Cover der Publikation
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