Wavefront aberration measurements based on the Background Oriented Schlieren method
Wolf, Dominik Werner
1; Thielbeer, Boris; Ulrich, Markus
2; Braun, Alexander
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Thielbeer, Boris; Ulrich, Markus
2; Braun, Alexander1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 12.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2665-9174 KITopen-ID: 1000177721 |
| Erschienen in | Measurement: Sensors |
| Verlag | Elsevier |
| Seiten | 101509 |
| Vorab online veröffentlicht am | 24.12.2024 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Dimensions Scopus |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |