Background study of the AMoRE-pilot experiment
Agrawal, A.; Alenkov, V. V.; Aryal, P.; Beyer, J.; Bhandari, B.; Boiko, R. S.; Boonin, K.; Buzanov, O.; Byeon, C. R.; Chanthima, N.; Cheoun, M. K.; Choe, J. S.; Choi, Seonho; Choudhury, S.; Chung, J. S.; Danevich, F. A.; Djamal, M.; Drung, D.; Enss, C.; ... mehrFleischmann, A.; Gangapshev, A. M.; Gastaldo, L.; Gavrilyuk, Yu M.; Gezhaev, A. M.; Gileva, O.; Grigorieva, V. D.; Gurentsov, V. I.; Ha, C.; Ha, D. H.; Ha, E. J.; Hwang, D. H.; Jeon, E. J.; Jeon, J. A.; Jo, H. S.; Kaewkhao, J.; Kang, C. S.; Kang, W. G.; Kazalov, V. V.; Kempf, S. 1; Khan, A.; Khan, S.; Kim, D. Y.; Kim, G. W.; Kim, H. B.; Kim, Ho-Jong; Kim, H. J.; Kim, H. L.; Kim, H. S.; Kim, M. B.; Kim, S. C.; Kim, S. K.; Kim, S. R.; Kim, Siyeon; Kim, W. T.; Kim, Y. D.; Kim, Y. H.; Kirdsiri, K.; Ko, Y. J.; Kobychev, V. V.; Kornoukhov, V.; Kuzminov, V. V.; Kwon, D. H.; Lee, C. H.; Lee, DongYeup; Lee, E. K.; Lee, H. J.; Lee, H. S.; Lee, J.; Lee, J. Y.; Lee, K. B.; Lee, M. H.; Lee, M. K.; Lee, S. W.; Lee, Y. C.; Leonard, D. S.; Lim, H. S.; Mailyan, B.; Makarov, E. P.; Nyanda, P.; Oh, Y. ; Olsen, S. L.; Panasenko, S. I.; Park, H. K.; Park, H. S.; Park, K. S.; Park, S. Y.; Polischuk, O. G.; Prihtiadi, H.; Ra, S.; Ratkevich, S. S.; Rooh, G.; Sari, M. B.; Seo, J. ; Seo, K. M.; Sharma, B.; Shin, K. A.; Shlegel, V. N.; So, J.; Sokur, N. V.; Son, J. K.; Song, J. W.; Srisittipokakun, N.; Tretyak, V. I.; Wirawan, R.; Woo, K. R.; Yeon, H. J.; Yoon, Y. S.; Yue, Q.
1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Zugehörige Institution(en) am KIT |
Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS) |
Publikationstyp |
Zeitschriftenaufsatz |
Publikationsmonat/-jahr |
10.2024 |
Sprache |
Englisch |
Identifikator |
ISSN: 0927-6505
KITopen-ID: 1000177781 |
HGF-Programm |
54.12.01 (POF IV, LK 01) Detection and Measurement |
Erschienen in |
Astroparticle Physics |
Verlag |
Elsevier |
Band |
162 |
Seiten |
102991 |
Nachgewiesen in |
Dimensions Web of Science Scopus
|