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Untersuchung der Geometrieabhängigkeit der Stromtragfähigkeit supraleitender Strukturen

Kreft, Felix Robert Ekkehard 1
1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 02.01.2025
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000177864
Art der Arbeit Abschlussarbeit - Bachelor
Prüfungsdaten 02.01.2025
Referent/Betreuer Kempf, Sebastian
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