Review of Particle Physics
Particle Data Group Collaboration; Navas, S.; Amsler, C.; Gutsche, T.; Hanhart, C.; Hernández-Rey, J. J.; Lourenço, C.; Masoni, A.; Mikhasenko, M.; Mitchell, R. E.; Patrignani, C.; Schwanda, C.; Spanier, S.; Venanzoni, G.; Yuan, C. Z.; Agashe, K.; Aielli, G.; Allanach, B. C.; Alvarez-Muñiz, J.; ... mehrAntonelli, M.; Aschenauer, E. C.; Asner, D. M.; Assamagan, K.; Baer, H.; Banerjee, Sw.; Barnett, R. M.; Baudis, L.; Bauer, C. W.; Beatty, J. J.; Beringer, J.; Bettini, A.; Biebel, O.; Black, K. M.; Blucher, E.; Bonventre, R.; Briere, R. A.; Buckley, A.; Burkert, V. D.; Bychkov, M. A.; Cahn, R. N.; Cao, Z.; Carena, M.; Casarosa, G.; Ceccucci, A.; Cerri, A.; Chivukula, R. S.; Cowan, G.; Cranmer, K.; Crede, V.; Cremonesi, O.; D’Ambrosio, G.; Damour, T.; de Florian, D.; de Gouvêa, A.; DeGrand, T.; Demers, S.; Demiragli, Z.; Dobrescu, B. A.; D’Onofrio, M.; Doser, M.; Dreiner, H. K.; Eerola, P.; Egede, U.; Eidelman, S.; El-Khadra, A. X.; Ellis, J.; Eno, S. C.; Erler, J.; Ezhela, V. V.; Fava, A.; Fetscher, W.; Fields, B. D.; Freitas, A.; Gallagher, H.; Gershon, T.; Gershtein, Y.; Gherghetta, T.; Gonzalez-Garcia, M. C.; Goodman, M.; Grab, C.; Gritsan, A. V.; Grojean, C.; Groom, D. E.; Grünewald, M.; Gurtu, A.; Haber, H. E.; Hamel, M.; Hashimoto, S.; Hayato, Y.; Hebecker, A.; Heinemeyer, S.; Hikasa, K.; Hisano, J.; Höcker, A.; Holder, J.; Hsu, L.; Huston, J.; Hyodo, T.; Ianni, Al.; Kado, M.; Karliner, M.; Katz, U. F.; Kenzie, M.; Khoze, V. A.; Klein, S. R.; Krauss, F.; Kreps, M.; Križan, P.; Krusche, B.; Kwon, Y.; Lahav, O.; Lellouch, L. P.; Lesgourgues, J.; Liddle, A. R.; Ligeti, Z.; Lin, C.-J.; Lippmann, C.; Liss, T. M.; Lister, A.; Littenberg, L.; Lugovsky, K. S.; Lugovsky, S. B.; Lusiani, A.; Makida, Y.; Maltoni, F.; Manohar, A. V.; Marciano, W. J.; Matthews, J.; Meißner, U.-G.; Melzer-Pellmann, I.-A.; Mertsch, P.; Miller, D. J.; Milstead, D.; Mönig, K.; Molaro, P.; Moortgat, F.; Moskovic, M.; Nagata, N.; Nakamura, K.; Narain, M.; Nason, P.; Nelles, A.; Neubert, M.; Nir, Y.; O’Connell, H. B.; O’Hare, C. A. J.; Olive, K. A.; Peacock, J. A.; Pianori, E.; Pich, A.; Piepke, A.; Pietropaolo, F.; Pomarol, A.; Pordes, S.; Profumo, S.; Quadt, A.; Rabbertz, K.; Rademacker, J.; Raffelt, G.; Ramsey-Musolf, M.; Richardson, P.; Ringwald, A.; Robinson, D. J.; Roesler, S.; Rolli, S.; Romaniouk, A.; Rosenberg, L. J.; Rosner, J. L.; Rybka, G.; Ryskin, M. G.; Ryutin, R. A.; Safdi, B.; Sakai, Y.; Sarkar, S.; Sauli, F.; Schneider, O.; Schönert, S.; Scholberg, K.; Schwartz, A. J.; Schwiening, J.; Scott, D.; Sefkow, F.; Seljak, U.; Sharma, V.; Sharpe, S. R.; Shiltsev, V.; Signorelli, G.; Silari, M.; Simon, F. 1; Sjöstrand, T.; Skands, P.; Skwarnicki, T.; Smoot, G. F.; Soffer, A.; Sozzi, M. S.; Spiering, C.; Stahl, A.; Sumino, Y.; Takahashi, F.; Tanabashi, M.; Tanaka, J.; Taševský, M.; Terao, K.; Terashi, K.; Terning, J.; Thoma, U.; Thorne, R. S.; Tiator, L.; Titov, M.; Tovey, D. R.; Trabelsi, K.; Urquijo, P.; Valencia, G.; Van de Water, R.; Varelas, N.; Verde, L.; Vivarelli, I.; Vogel, P.; Vogelsang, W.; Vorobyev, V.; Wakely, S. P.; Walkowiak, W.; Walter, C. W.; Wands, D.; Weinberg, D. H.; Weinberg, E. J.; Wermes, N.; White, M.; Wiencke, L. R.; Willocq, S.; Woody, C. L.; Workman, R. L.; Yao, W.-M.; Yokoyama, M.; Yoshida, R.; Zanderighi, G.; Zeller, G. P.; Zhu, R.-Y.; Zhu, S.-L.; Zimmermann, F.; Zyla, P. A.; Anderson, J.; Kramer, M.; Schaffner, P.; Zheng, W.
1 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT |
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
| Publikationstyp |
Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr |
08.2024 |
| Sprache |
Englisch |
| Identifikator |
ISSN: 2470-0010, 2470-0029
KITopen-ID: 1000177951 |
| HGF-Programm |
54.12.03 (POF IV, LK 01) Science Systems |
| Erschienen in |
Physical Review D |
| Verlag |
American Physical Society (APS) |
| Band |
110 |
| Heft |
3 |
| Seiten |
Article no: 030001 |
| Vorab online veröffentlicht am |
01.08.2024 |
| Nachgewiesen in |
Scopus
|
