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Projected background and sensitivity of AMoRE-II

AMoRE Collaboration; Agrawal, A.; Alenkov, V. V.; Aryal, P.; Beyer, J.; Bhandari, B.; Boiko, R. S.; Boonin, K.; Buzanov, O.; Byeon, C. R.; Chanthima, N.; Cheoun, M. K.; Choe, J. S.; Choi, Seonho; Choudhury, S.; Chung, J. S.; Danevich, F. A.; Djamal, M.; Drung, D.; ... mehr


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000178739
Veröffentlicht am 06.02.2025
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1140/epjc/s10052-024-13516-9
Scopus
Zitationen: 4
Web of Science
Zitationen: 3
Dimensions
Zitationen: 3
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2025
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1434-6052
KITopen-ID: 1000178739
Erschienen in The European Physical Journal C
Verlag Springer-Verlag
Band 85
Heft 1
Seiten Art.-Nr.: 9
Bemerkung zur Veröffentlichung Gefördert durch SCOAP3
Vorab online veröffentlicht am 08.01.2025
Nachgewiesen in Scopus
OpenAlex
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