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Testing ReRAM-based TCAM for Computation-in-Memory Applications

Hezayyin, Haneen G. 1; Mayahinia, Mahta 1; Tahoori, Mehdi 2
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/DTTIS62212.2024.10780399
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Zitationen: 1
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Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 14.10.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 979-8-3503-6313-5
ISSN: 2832-8221
KITopen-ID: 1000179101
Erschienen in 2024 IEEE International Conference on Design, Test and Technology of Integrated Systems (DTTIS), Aix-en-Provence, 14th-16th October 2024
Veranstaltung IEEE International Conference on Design, Test and Technology of Integrated Systems (2024), Aix-en-Provence, Frankreich, 14.10.2024 – 16.10.2024
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1–4
Nachgewiesen in Scopus
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OpenAlex
Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung Ziel 7 – Bezahlbare und saubere Energie
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