Testing ReRAM-based TCAM for Computation-in-Memory Applications
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 14.10.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-8-3503-6313-5 ISSN: 2832-8221 KITopen-ID: 1000179101 |
| Erschienen in | 2024 IEEE International Conference on Design, Test and Technology of Integrated Systems (DTTIS), Aix-en-Provence, 14th-16th October 2024 |
| Veranstaltung | IEEE International Conference on Design, Test and Technology of Integrated Systems (2024), Aix-en-Provence, Frankreich, 14.10.2024 – 16.10.2024 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–4 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus OpenAlex |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |
Seitenaufrufe: 17
seit 14.02.2025
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