Segregation to Creep-induced Planar Faults in Ni-base Single Crystal Superalloys
Long, Zhongmin 1; Bürger, David; Dolle, Christian 1; Dai, Yuting 2; Vamsi, K. V.; Eggeler, Yolita M.
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1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
11 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsdatum | 24.07.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1431-9276, 1079-8501, 1435-8115 KITopen-ID: 1000179294 |
| HGF-Programm | 43.35.01 (POF IV, LK 01) Platform for Correlative, In Situ & Operando Charakterizat. |
| Erschienen in | Microscopy and Microanalysis |
| Verlag | Cambridge University Press (CUP) |
| Band | 30 |
| Heft | Supplement_1 |
| Seiten | 1266 – 1267 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Dimensions Scopus |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |