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Analyzing Structural Dynamics in Nanocrystalline Thin Films using In-Situ 4D-STEM: A Statistical Approach

Tian, Yuan; Bi, Yutong; Xu, Mingjie; Boltynjuk, Evgeniy 1; Hahn, Horst 1; Han, Jian; Srolovitz, David J.; Pan, Xiaoqing
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1093/mam/ozae044.811
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum 24.07.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1431-9276, 1079-8501, 1435-8115
KITopen-ID: 1000179297
HGF-Programm 43.31.01 (POF IV, LK 01) Multifunctionality Molecular Design & Material Architecture
Erschienen in Microscopy and Microanalysis
Verlag Cambridge University Press (CUP)
Band 30
Heft Supplement_1
Seiten 1647 – 1648
Nachgewiesen in Dimensions
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