KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Analyzing Structural Dynamics in Nanocrystalline Thin Films using In-Situ 4D-STEM: A Statistical Approach

Tian, Yuan; Bi, Yutong; Xu, Mingjie; Boltynjuk, Evgeniy 1; Hahn, Horst 1; Han, Jian; Srolovitz, David J.; Pan, Xiaoqing
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Postprint §
DOI: 10.5445/IR/1000179297
Veröffentlicht am 20.03.2026
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum 24.07.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1431-9276, 1079-8501, 1435-8115
KITopen-ID: 1000179297
HGF-Programm 43.31.01 (POF IV, LK 01) Multifunctionality Molecular Design & Material Architecture
Erschienen in Microscopy and Microanalysis
Verlag Cambridge University Press (CUP)
Band 30
Heft Supplement_1
Seiten 1647 – 1648
Nachgewiesen in Dimensions
OpenAlex
Scopus
KIT – Die Universität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page